(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202122970594.7 (22)申请日 2021.11.30 (73)专利权人 武汉中旗 光电科技有限公司 地址 430000 湖北省武汉市东湖新 技术开 发区光谷大道303号光谷芯中心三期 4-02幢9层2厂房单 元号 (72)发明人 顾勇刚　王晓丽　 (74)专利代理 机构 武汉红观 专利代理事务所 (普通合伙) 42247 代理人 徐春燕 (51)Int.Cl. G01D 21/02(2006.01) (54)实用新型名称 一种可调式 高低温温差测试装置 (57)摘要 本实用新型提出了一种可调式高低温温差 测试装置， 其包括基座， 还包括第一测试模组、 第 二测试模组和第三测试模组； 第一测试模组， 设 置于基座上， 对用户测试器件进行低温测试； 第 二测试模组， 沿第一测试模组的水平延伸方向设 置于基座上， 配合第一测试模组对用户测试器件 的同一侧面进行高低温测试； 第三测试模组， 沿 第一测试模组的垂直延伸方向设置于基座上。 该 可调式高低温温差测试装置， 通过第一测试模组 配合第二测试模组使用， 从而使得该测试装置便 于对水平构造的用户测试器件进行高低温测试， 再通过第一测试模组配合第三测试模组使用， 从 而使得该测试装置便于对垂直构造的用户测试 器件进行高低温测试， 进而提高了该测试装置的 实用性。 权利要求书2页 说明书6页 附图10页 CN 216348833 U 2022.04.19 CN 216348833 U 1.一种可调式高低温温差测试装置， 其包括基座(1)， 其特征在于： 还包括第一测试模 组(2)、 第二测试模组(3)和第三测试模组(4)； 第一测试模组(2)， 设置 于基座(1)上， 用于对用户测试器件进行低温测试； 第二测试模组(3)， 沿第一测试模组(2)的水平延伸方向设置于基座(1)上， 用于配合第 一测试模组(2)对用户测试器件的同一侧面进行高低温测试； 第三测试模组(4)， 沿第一测试模组(2)的垂直延伸方向设置于基座(1)上， 用于配合第 一测试模组(2)对用户测试器件的相背面进行高低温测试。 2.如权利要求1所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 第一测试模组 (2)包括换热组件(21)和第一测试板(22)， 换热组件(21)设置于基座(1)上， 第一测试板 (22)设置于换热组件(21)上。 3.如权利要求2所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 换热组件(21)包 括换热器(211)和第一半导体TEC(212)， 换热器(211)设置于基座(1)上， 第一半导体TEC (212)设置于换热器(211)远离基座(1)的一侧， 第一测试板(22)设置于第一半导体TEC (212)远离换 热器(211)的一侧。 4.如权利要求3所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 换热器(211)包 括水槽(a)和热沉板(b)， 水槽(a)设置于基座(1)上， 热沉板(b)设置于水槽(a)上并对水进 行导流及密封， 第一半导体TE C(212)设置 于水槽(a)远离基座(1)的一侧。 5.如权利要求1所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 第二测试模组 (3)包括第一加热组件(31)和第二测试板(32)， 第一加热组件(31)设置于基座(1)上， 第二 测试板(32)设置 于第一加热组件(31)上。 6.如权利要求5所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 第一加热组件 (31)包括调节组件(311)、 第二半导体TEC(312)和第一电热板(313)， 调节组件(311)设置于 基座(1)上， 第二半导体TEC(312)设置于调节组件(311)上， 第一电热板(313)设置于第二半 导体TEC(312)靠近基座(1)的一侧， 第二测试板(32)设置于第二半导体TEC(312)远离第一 电热板(313)的一侧。 7.如权利要求6所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 调节组件(311) 包括第一螺杆(c)、 第一滑座(d)、 锁紧器(e)和旋转传感器(f)， 第一螺杆(c)沿其轴向转动 设置于基座(1)上， 第一滑座(d)沿第一螺杆(c)轴向滑动设置于基座(1)上并与第一螺杆 (c)螺纹啮合， 第二半导体TEC(312)设置于第一滑座(d)上， 锁紧器(e)设置于基座(1)上， 用 于对第一螺杆(c)进行锁紧， 旋转传感器(f)设置于锁 紧器(e)上， 用于检测第一螺杆(c)的 旋转圈数； 锁紧器(e)包括卡座(x)、 垫圈(y)、 轴承(z)和调节杆(s)， 卡座(x)设置于基座(1)上且 位于第一螺杆(c)的外围， 卡座(x)为弹性金属制件， 垫圈(y)设置于卡座(x)内， 轴承(z)设 置于卡座(x)内且与垫圈(y)同轴， 调节杆(s)通过螺纹与卡座(x)连接， 第一螺杆(c)设置于 轴承(z)内且贯 穿垫圈(y)。 8.如权利要求2所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 第三测试模组 (4)包括调平组件(41)和第三测试板(42)， 调平组件(41)设置于基座(1)上， 第三测试板 (42)设置 于调平组件(41)上且位于第一测试板(2 2)的上方。 9.如权利要求8所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 调平 组件(41)包权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 216348833 U 2括第二加热组件(411)、 调平螺母(412)、 第二螺杆(413)和第二滑座(414)， 第二螺杆(413) 沿其轴向转动设置于基座(1)上且相对于第一测试板(22)相互垂直， 第二滑 座(414)沿第二 螺杆(413)轴向滑动设置于基座(1)上并与第二螺杆(413)螺纹啮合， 调平螺母(412)设置于 第二滑座(414)上， 第二加热组件(411)设置于调平螺母(412)上， 第三测试板(42)设置于第 二加热组件(41 1)上并配合第一测试板(2 2)对用户测试器件的相背面进行相抵持。 10.如权利要求9所述的一种可调式高低温温差测试装置， 其特征在于： 第二加热组件 (411)包括保温箱(g)、 隔热板(k)、 第三半导体TEC(m)和第二电热板(n)， 保温箱(g)设置于 调平螺母(412)上， 隔热板(k)设置于保温箱(g)上， 第三测试板(42)设置于隔热板(k)远离 保温箱(g)的一侧， 第三半导体TEC(m)设置于第三测试板(42)上且位于保温箱(g)的内部， 第二电热板(n)设置 于第三半导体TE C(m)远离第三测试板(42)的一侧。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 216348833 U 3