(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111636205.5 (22)申请日 2021.12.2 9 (71)申请人 上海肇观电子科技有限公司 地址 201203 上海市浦东 新区自由贸易试 验区龙东大道3 000号7幢501室 (72)发明人 常圆圆　方舒　周骥　冯歆鹏　 (74)专利代理 机构 北京市汉坤律师事务所 11602 代理人 魏小薇　吴丽丽 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) (54)发明名称 用于评估深度图像质量的方法、 装置、 电子 设备和介质 (57)摘要 提供一种用于评估深度图像质量的方法、 装 置、 电子设备和存储介质。 该用于评估深度图像 质量的方法包括： 使用深度采集 设备采集分别用 于多个模组的多个深度图像， 其中， 所述多个模 组具有不同表面深度特征； 对于所述多个深度图 像中的每个深度图像， 提取该深度图像的深度图 像特征； 以及基于所提取的多个深度图像特征中 的至少一项， 确定用于所述深度采集设备的深度 图像质量评估结果。 权利要求书2页 说明书15页 附图5页 CN 114283141 A 2022.04.05 CN 114283141 A 1.一种用于 评估深度图像质量的方法， 包括： 使用深度采集设备采集分别用于多个模组的多个深度图像， 其中， 所述多个模组具有 不同表面深度特 征； 对于所述多个深度图像中的每 个深度图像， 提取 该深度图像的深度图像特 征； 以及 基于所提取的多个深度图像特征中的至少一项， 确定用于所述深度采集设备的深度图 像质量评估结果。 2.如权利要求1所述的方法， 其中， 所述多个模组包括平面模组， 所述平面模组的表面 是平面。 3.如权利要求2所述的方法， 其中， 所述提取该深度图像的深度图像特征包括获取用于 所述平面模组的深度图像的有效图像区域内的以下平面图像特 征中的至少一项： 绝对误差， 所述绝对误差指示基于用于所述平面模组的深度图像确定的测量深度值与 所述平面模组的真实深度值的偏差； 无效深度值比率， 所述无效深度值比率指示用于所述平面模组 的深度图像中测量深度 值为无效值的像素 所占比率； 异常深度值比率， 所述异常深度值比率指示所述平面模组 的深度图像中测量深度值与 真实深度值之间的误差大于预定误差阈值的像素 所占比率； 以及 拟合平面平整度， 所述拟合平面平整度指示所述平面模组 的深度图像中测量深度值与 其拟合出的平面上的对应深度值之间的偏差小于平整度阈值的像素 所占比。 4.如权利要求3所述的方法， 其中， 用于所述平面模组的深度图像的有效图像区域是所 述平面模组的深度图像中具有预定尺寸的感兴趣区域。 5.如权利要求3所述的方法， 其中， 获取 所述平面模组的绝对误差包括： 在所述有 效图像区域内， 统计所有像素的测量深度值与真实深度值的差值的平均值或 中值。 6.如权利要求3所述的方法， 其中， 获取 所述平面模组的无效深度值比率包括： 对于所述有 效图像区域内的每个像素， 当该像素的测量深度值与该像素的真实深度值 的偏差大于预定的无效值阈值时， 将该像素的测量深度值置为无效值； 以及 确定所述有效图像区域内测量深度值为无效值的像素数和所述有效图像区域内总像 素数的比值作为所述无效深度值比率。 7.一种用于 评估深度图像质量的装置， 包括： 深度采集设备， 被配置用于使用深度采集设备采集分别用于多个模组的多个深度图 像， 其中， 所述多个模组具有不同表面深度特 征； 提取单元， 被配置用于对于所述多个深度图像中的每个深度图像， 提取该深度图像的 深度图像特 征； 以及 评估单元， 被配置用于基于所提取的多个深度图像特征中的至少一项， 确定用于所述 深度采集设备的深度图像质量评估结果。 8.一种电子设备， 包括： 至少一个处 理器； 以及 与所述至少一个处 理器通信连接的存 储器； 其中 所述存储器存储有计算机程序， 所述计算机程序在被所述至少一个处理器执行时实现权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114283141 A 2根据权利要求1 ‑6中任一项所述的方法。 9.一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质， 其中， 所述计算机程序在被 处理器执行时实现根据权利要求1 ‑6中任一项所述的方法。 10.一种计算机程序产品， 包括计算机程序， 其中， 所述计算机程序在被处理器执行时 实现根据权利要求1 ‑6中任一项所述的方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114283141 A 3