(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111664108.7 (22)申请日 2021.12.3 0 (71)申请人 佛山技研智联科技有限公司 地址 528000 广东省佛山市禅城区东鄱二 路5号自编一 座5层(住所申报) (72)发明人 朱浩　韦帅　莫兆忠　 (74)专利代理 机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 代理人 关志琨 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/40(2017.01) G06T 5/40(2006.01) (54)发明名称 织物纹理周期的测量方法、 装置、 计算机设 备和存储介质 (57)摘要 本申请涉及一种织物纹理周期的测量方法、 装置、 计算机设备和存储介质。 该方法包括： 获取 织物的原始图像， 并获取原始图像中各像素点的 坐标和灰度值； 计算任意两像素点在水平方向 和/或竖直方向上的位移矢量和任意两像素点的 灰度级的级差； 根据任意两像素点在水平方向 和/或竖直方向上的位移矢量和级差， 统计在水 平方向和/或竖直方向上的各位移矢量对应的级 差的概率分布； 根据级差的概率分布计算各位移 矢量对应的同质化参数； 确定在水平方向和/或 竖直方向上各位移矢量对应的同质化参数中最 大值， 将最大值对应的位移 矢量作为织物的在水 平方向和/或竖直方向上纹理周期。 本方法能够 简化织物纹理周期的计算。 权利要求书2页 说明书11页 附图6页 CN 114332044 A 2022.04.12 CN 114332044 A 1.一种织物纹 理周期的测量方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取织物的原 始图像， 并获取 所述原始图像中各像素点的坐标和灰度值； 计算任意两像素点在水平方向和/或竖直方向上的位移矢量， 并根据任意两像素点的 灰度值计算任意两像素点的灰度级的级差； 根据任意两像素点在水平方向和/或竖直方向上的位移矢量和级差， 统计在水平方向 和/或竖直方向上的各位移矢量对应的级差的概 率分布； 根据所述级差的概率分布， 计算在水平方向和/或竖直方向上各位移矢量对应的同质 化参数； 确定在水平方向和/或竖直方向上各位移矢量对应的同质化参数中最大值， 将所述最 大值对应的位移矢量作为所述 织物的在水平方向和/或竖直方向上纹 理周期。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述确定在水平方向和/或竖直方向上各 位移矢量对应的同质化参数中最大值， 将所述最大值对应的位移矢量作为所述织物在水平 方向和/或竖直方向上的纹 理周期， 包括： 确定在水平方向和/或竖直方向上 各位移矢量对应的同质化 参数中最大值； 将所述最大值对应的最小位移矢量作为所述织物在水平方向和/或竖直方向上的纹理 周期。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述确定在水平方向和/或竖直方向上各 位移矢量对应的同质化参数中最大值， 将所述最大值对应的位移矢量作为所述织物在水平 方向和/或竖直方向上的纹 理周期， 包括： 根据在水平方向和/或竖直方向上各位移矢量对应的同质化参数， 获取位移矢量和同 质化参数的关系曲线图； 确定水平方向和/或竖直方向对应的关系曲线图中的第 一个波峰值， 并将水平方向和/ 或竖直方向对应的第一个波峰值所对应的位移矢量作为所述织物在水平 方向和/或竖直方 向上的纹 理周期。 4.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据任意两像素点在水平方向和/或 竖直方向上 的位移矢量和级差， 统计在水平方向和/或竖直方向上 的各位移矢量对应的级 差的概率分布， 包括： 根据任意两像素点在水平方向和/或竖直方向上的位移矢量和级差， 获取在在水平方 向和/或竖直方向上的各位移矢量对应的级差的分布直方图； 对所述分布直方图进行归一化处理， 获得在水平方向和/或竖直方向上的各位移矢量 对应的级差的概 率分布。 5.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述级差的概率分布， 计算在水 平方向和/或竖直方向上 各位移矢量对应的同质化 参数， 包括： 根据水平方向和/或竖直方向上每个位移矢量对应的级差的概率分布和级差计算， 获 得水平方向和/或竖直方向上每个位移矢量对应的比值， 并计算水平方向和/或竖直方向上 每个位移矢量对应的比值之和， 获得水平方向和/或竖直方向上每个位移矢量的同质化参 数。 6.根据权利要求5所述的方法， 其特征在于， 通过如下公式计算水平方向和/或竖直方 向上每个位移矢量的同质化 参数：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114332044 A 2其中， v表示位移矢量， a表示位移矢量v对应的两个像素点之间的灰度级的级差， Pv(a) 表示相对位置关系为矢量v的两个 像素点的灰度级的级差为a的概 率。 7.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据任意两像素点的灰度值计算任意 两像素点的灰度级的级差， 包括： 计算任意两像素点的灰度值的差值， 将所述差值作为对应两像素点的灰度级的级差； 或者， 根据任意两像素点的灰度值确定 两像素点的灰度级； 计算两像素点的灰度级的差值， 获得两像素点的灰度级的级差 。 8.一种织物纹 理周期的测量装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 获取模块， 用于获取织物的原始图像， 并获取所述原始图像中各像素点的坐标和灰度 值； 第一计算模块， 用于计算任意两像素点在水平方向和/或竖直方向上的位移矢量和灰 度差； 统计模块， 用于根据任意两像素点在水平方向和/或竖直方向上的位移矢量和灰度差， 统计在水平方向和/或竖直方向上的各位移矢量对应的灰度差的概 率分布； 同质化参数计算模块， 用于根据所述灰度值的概率分布， 计算在水平方向和/或竖直方 向上各位移矢量对应的同质化 参数； 纹理周期计算模块， 用于确定在水平方向和/或竖直方向上各位移矢量对应的同质化 参数中最大值， 将所述 最大值作为所述 织物的在水平方向和/或竖直方向上纹 理周期。 9.一种计算机设备， 包括存储器和处理器， 所述存储器存储有计算机程序， 其特征在 于， 所述处 理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算机程序 被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114332044 A 3